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――李同保
李同保是著名测量学专家。男， 1942年10月生，河南温县人。
1963年毕业于上海同济大学应用物理专业，同年到北京中国计量科学研究院光学研究室工作，1970年分迁到四川中国计量科学研究院分院。1980年4月至11月在中美高级研究学者交流计划资助下到美国国家标准与技术研究院〔NIST〕从事辐射度学研究，获优秀客座研究人员奖。1983年至1999年5月，在中国测试技术研究院从事光辐射计量测试技术研究及科研管理工作。
历任助理研究员、副研究员、研究员；研究室主任、副院长，院长，名誉院长，中国计量测试学会副理事长，光辐射专业委员会主任委员。1994年被遴选为首批中国工程院士。1999年调入同济大学，现为同济大学教授、博士生导师。中国计量测试学会理事长、中国照明学会理事。
李同保长期从事光辐射计量测试技术研究，是国际上最早从事量子辐射学研究的科学家之一，主持研制的多项光辐射测量标准及仪器填补了国内空白。在60年代，研制了2000K -- 2854K色温临时工作标准，满足了光度、色度，以及光探测器积分灵敏度标定方面的急需。他研制的
微弱光标准测试装置，提出一种测量极低透过率（nx l0-6）的新方法，使得能以5％的不确定度测量l0-6Lx水平的微光照度，满足了当时夜视微光器件、放射萤光材料等重大科研生产的急需。在70年代，研制了我国第一台精密数字式照度计，该仪器在V（λ）函数修正、余弦特性校准、直线性校准，准确度及长期稳定性等方面都达到当时国际上同类仪器的水平。在建立500K --- 1000K全辐照标准工作中，改进了辐射腔测温结构和测量程序，显著地提高了黑体辐射器的品质，为我国红外制导和红外武器系统的科研生产提供
了检测的技术基础。1977年，他主持完成最大光谱光效率（Km值）实验测定，测定值非常接近同期9个国家标准实验室测出Km值的平均值。工作受到国际计量局和国际光度与辐射度咨询委员会的重视和赞扬。在80年代初，他利用Kr+和Ar+ 激光器、倍频技术和自校准硅光电二极管，以0．5％一1％的不确定度测量了硅在紫外区的量于产额，比国际通常采用的克里斯坦森数据其精度提高约5倍。在以后的“用硅光二极管自校准技术实现400 --- 900nm光谱辐射绝对测量”的研究中，对零偏压下动态电阻进行了深入的研究，结合外部特征参数的精密测试，对器件的预选择提出了有效判据。在当时是处于国际领先地位。李同保主持和参与的科研项目，曾2次获国家科技进步壹等奖，多次获省部级科技奖励。他的30多篇研究论文受到国际光辐射计量界的重视并有较大的影响。